Описание проекта
Универсальный электромагнитный дефектоскоп ЭМД-2Н
Данный прибор предназначен для обнаружения поверхностных и подповерхностных дефектов на глубину 18-25 мм. Особая конструкция датчика позволяет отстроиться от влияния краевого эффекта, что позволяет контролировать всю поверхность объекта. В приборе предусмотрена возможность выявления зон с измененной структурой металла, которая предшествует образованию дефекта. Он работает также в режиме разбраковке металлов по маркам.